光切法顯微鏡9J（普通型）
測量范圍▽3～▽9（12.5～0.2μm）
攝影裝置放大倍數(shù)：約6X
測量不平度范圍 ：0.001～0.08mm
攝影裝置放大倍數(shù)：約6X
測量不平度范圍 ：0.001～0.08mm
產(chǎn)品介紹
一、用途
9J光切法顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。 光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。二、技術(shù)規(guī)格
| 測量范圍不平度平均高度值 （um） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數(shù) |
物鏡組件 工作距離 （mm） |
視場 （mm） |
|
＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80 |
9 8～7 6～5 4～3 |
60timesN.A.0.55 30timesN.A.0.40 14timesN.A.0.20 7timesN.A.0.12 |
510times 260 times 120 times 60 times |
0.04 0.2 2.5 9.5 |
0.3 0.6 1.3 2.5 |
1、攝影裝置放大倍數(shù)：約6X
2、測量不平度范圍 ：0.001～0.08mm
3、不平寬度： 用測微目鏡： 0.0007～2.5mm；用坐標工作臺：0.01～13mm
4、儀器重量： 約23kg
5、外形尺寸： 約180×290×470mm
三、儀器成套性：
| 序 號 | 名稱 | 單位 | 數(shù)量 |
| 1 | 儀器本體 | 臺 | 1 |
| 2 | 測微目鏡 | 只 | 1 |
| 3 | 坐標工作臺 | 件 | 1 |
| 4 | V 型塊 | 件 | 1 |
| 5 | 標準刻尺（連盒） | 組 | 1 |
| 6 | 7 倍物鏡 | 組 | 1 |
| 7 | 14 倍物鏡 | 組 | 1 |
| 8 | 30 倍物鏡 | 組 | 1 |
| 9 | 60 倍物鏡 | 組 | 1 |
| 10 | 可調(diào)變壓器220/4～6/5VA | 只 | 1 |
| 11 | 2.1瓦6伏燈泡 (備用件) | 只 | 3 |
| 12 | 產(chǎn)品使用說明書 | 份 | 1 |
| 13 | 產(chǎn)品合格證明 | 份 | 1 |
| 14 | 產(chǎn)品保修卡 | 份 | 1 |
