掃描電子顯微鏡（SEM）
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種電子顯微鏡，用于掃描微生物表面，該表面使用低能量移動(dòng)的電子束聚焦并掃描樣本。
電子顯微鏡的發(fā)展歸因于光學(xué)顯微鏡波長(zhǎng)的低效率。與光學(xué)顯微鏡相比，電子顯微鏡具有短的垂直波長(zhǎng)，因此可以實(shí)現(xiàn)更好的分辨率。
掃描電子顯微鏡的原理
與使用透射電子的透射電子顯微鏡不同，掃描電子顯微鏡使用發(fā)射的電子。
掃描電子顯微鏡的原理是施加動(dòng)能以產(chǎn)生有關(guān)電子相互作用的信號(hào)。這些電子是二次電子，后向散射電子和衍射后向散射電子，用于觀察結(jié)晶元素和光子。二次電子和反向散射電子用于產(chǎn)生圖像。從樣品中發(fā)射出的二次電子起著檢測(cè)樣品的形態(tài)和形貌的主要作用，而反向散射的電子則在樣品元素的組成中表現(xiàn)出對(duì)比度。
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